试论TOFD对比试块的必要性

对比试块对于脉冲反射法的确非常重要，直接作为检测工艺的一个重要部分和环节；但对于TOFD衍射技术，对比试块是否同样重要？的确值得检测人员思考。曾经在一重，中国特检院和外国同行进行TOFD对比分析时，提到过对比试块的使用。在检测前后分别采集对比试块数据，作为评价设备上TOFD检测数据是否有效的一个重要依据；从TOFD检测适用性来讲，对比试块显得有点多余，因为在待检工件或设备上调节灵敏度和时间窗口等工艺参数，标准规范是允许的，这时候对比试块显得有点多余；（但要注意，曾经论坛上讨论过A扫波幅对于TOFD检测的意义，那种TOFD检测技术不像传统脉冲反射法依靠波幅定量的观点，仅仅是理想状态。衍射技术比一般脉冲反射技术在回波上高了30多dB，大大降低了对波幅高度的依赖，但是仍然依赖回波时差分辨技术；回波时差技术对信噪比是有要求的，信噪比又是离不开回波高度和本底噪声的）一句话，脉冲回波反射技术直接依赖回波高度，TOFD技术已经对回波高度不太依赖，但和回波高度间接相关的。这一点是值得讨论的。

从TOFD检测的规范性来讲，对比试块是必不可少的；TOFD技术和传统脉冲回波技术有共同的要求和步骤，即对检测仪器及系统（超声设备，探头线、探头、校准试块等）校准，检测工艺在对比试块调试，检测工艺在模拟试块上验证，检测工艺在设备上检测。不同的检测单位、检测人员会导致同样的设备参数，制定的TOFD检测工艺差别可能较大。实际检测过程当中，很少有模拟试块对TOFD检测工艺进行验证、演示，确定TOFD检测工艺正当性以及检测系统完好性（如严格按要求校准，完好性可不提），那么对比试块其实可以代替模拟试块的部分功能和作用。这对检测过程的控制是非常重要的一个环节。而国内尚未出现对TOFD检测工艺正当性怀疑和争议的案例（因为很多监管人并不太懂这门技术？）
实际检测当中，有多少检测员使用对比试块对检测工艺进行调校过？并在检测前后专门采集对比试块的数据作为检测数据起始依据？
有多少检测单位有校准试块、模拟试块？并按规范要求进行校核、验证以及对超声设备及探头进行跟踪溯源？
对比试块的材料声速等声特征量和工件声速并不一致的，有多少人测过对比试块的声速？以及工件的声速。虽然声速测不测，对定位的影响可能不大，但声速从5800到5950相差较大，且材料不同状态声速也不相同。
在常规脉冲反射法检测技术当中，当采用DGS法测试，可以不采用或少用相关试块，其它的超声检测技术基本上都是依赖很多试块的！我未看到TOFD技术能够脱离对比试块的趋势。
个人觉得对比试块就像一把尺子，能够使得不同的检测工艺留下直接的对比数据，以及可以作为判定检测数据是否有效的一个依据，还是非常重要的。
只是，检测人员对“对比试块‘的使用和认识还不够，包括我自己，导致对比试块显得有点多余罢了！一句话，对比试块仅是增项时的一个必不可少检查项目，然后就可以束之高阁的想法，有点不对。
当否？愿意接受大家的批评指正！

另外有一点需要提的是，我公司只购买过一块200mm厚的对比试块，买回来基本上有一年多没有用过。怎么使用当时都不怎么会。
后来，我在对比试块上测PCS，验证TOFD参数设置是否和输入值一致，跟着我做TOFD的人都嫌我做的工作无意义。我跟他们讲过多次，当你对检测工艺的参数有怀疑时，对比试块就是检验其是否合理的一个最好工具。

至于对比试块反射体尺寸、位置参数、加工精度是否重要？我觉得从公差上来讲，脉冲反射法位置参数的公差（一般标准欧标、美标）还是比较大的，所以在脉冲反射法当中，位置参数并不是特别重要，但表面下4mm 的2mm孔，位置参数和上表面盲区有关？当采用分层扫查时，有些软件采用计算法自动生成参考线，对比试块上的某一深度的孔，可以验证分层扫查某一通道参考线是否正确，如果对比试块在设置人工反射体考虑到这一点，则对于多通道检测的确方便一些；孔径尺寸ASME脉冲反射法要求也不是很高，TOFD 也同样要求不高是可以理解的；